Група вчених з Університету Макгілла в Канаді розробила новий метод пошуку дефектів в оптичних детекторах і волоконній плитці. Тепер цю процедуру можна провести практично миттєво.
Дослідження проводилося на основі використання атомно-силової мікроскопії. Це дозволило виявити надшвидкі сили, які виникають при взаємодії світла і матерії. Причому вони можуть бути виявлені з високою точністю, аж до мільярдної частки секунди, повідомляється на сайті університету.
На думку вчених, їх відкриття дозволить поліпшити оптичні детектори в фотоапаратах і смартфонах, і волоконну оптику для сонячних батарей або
сонячних панелей - універсальних зарядних пристроїв.
Відзначається, що новий метод може бути застосований до будь-яких матеріалів - металів, напівпровідників або ізоляторах. Це вплине на їх вивчення, розуміння і поліпшення роботи.
Раніше дослідники з Бірмінгемського університету розробили
новий метод, що дозволяє швидко переробляти пластик. На виході вони отримують біорозчинник, який застосовують в різних галузях промисловості вдруге.