Новый метод поиска нанодефектов в материалах позволит улучшить смартфоны и солнечные батареи — ученые

Группа ученых из Университета Макгилла в Канаде разработала новый метод поиска дефектов в оптических детекторах и волоконной плитке. Теперь эту процедуру можно провести практически мгновенно.

Исследование проводилось на основе использования атомно-силовой микроскопии. Это позволило обнаружить сверхбыстрые силы, которые возникают при взаимодействии света и материи. Причем они могут быть обнаружены с высокой точностью, вплоть миллиардной доли секунды, сообщается на сайте университета.

По мнению ученых, их открытие позволит улучшить оптические детекторы в фотоаппаратах и смартфонах, и волоконную оптику для солнечных батарей или солнечных панелей — универсальных зарядных устройств.

Отмечается, что новый метод может быть применим к любым материалам — металлам, полупроводникам или изоляторам. Это повлияет на их изучение, понимание и улучшение работы.

Ранее исследователи из Бирмингемского университета разработали новый метод, позволяющий быстро перерабатывать пластик. На выходе они получают биорастворитель, который применяют в разных отраслях промышленности вторично.